[发明专利]一种土遗址表面和内部温度变化的测量方法

摘要

本发明涉及一种土遗址表面和内部温度场影响的测量方法，通过在遗址内部合理布设若干传感器，并将测试温度数据绘制成温度等值线剖面图，通过与环境数据对比，评估环境对遗址内部温度影响程度。尤其突出赋存环境对遗址本体表面的温度场影响，其测试方法对研究遗址本体表面风化机制、赋存环境的影响机制、遗址本体温度场的变化规律等均具有重要意义。

主权项

一种土遗址表面和内部温度变化的测量方法，其步骤是：a. 测前检查传感器 检测5TM土壤水分温度传感器（1），将传感器（1）的一端插入采集器（2），通过配套的数据线连接电脑，校正时间日期，按试验需求及仪器说明进行参数设置并对其编号；b. 传感器定位 温度场土体（3）的密度为1.70g/cm3，传感器布设于遗址本体内顶面651mm、底面1700mm、高3246 mm圆锥台范围内，圆锥台土体（3）分为A 1层、A‑B层、B‑C层、C‑D层、D‑E层、E‑F层、F‑G层、G‑H层、H‑I层，每层布设7个传感器；遗址本体周边两侧第一个传感器与遗址本体表面间距不小于50mm，第一个传感器与相邻的第二个传感器间距不小于70mm，其余传感器间距以不小于30mm布设；遗址本体顶面H‑I层和遗址本体的底部M层和N层布设传感器较密，顶面H‑I层为7个，传感器间距为10mm，底部9‑11 个，传感器之间间距为100mm，对埋置传感器的位置进行标记，然后将传感器（1）依次摆放在标记点上，并进行记录；c . 埋设传感器 传感器下方铺虚土并压实，确保传感器（1）紧密与土体（3）接触，用手固定传感器（1），然后在其上铺土，确保试验墙夯筑铺设虚土时传感器不会移动；d. 传感器铺土夯筑 先压传感器引线，将引线按顺序排列整齐，在引线上轻压少量的试验用土，固定导线，待传感器（1）和引线完全固定，按试验遗址本体地面至顶面A‑I层铺土；圆锥台土体（3）共分34层，即：A 1层、A‑B 1层、B‑C 3层、C‑D5层、D‑E 7层、E‑F 7层、F‑G 5层、G‑H 3层、H‑I 2层，每层54mm；每层铺土完毕后，至少用夯锤夯筑三‑六遍；e. 按顺序将传感器引线与采集器（2）相连接，采集间隔为5min，采集器通过传感器（1）开始采集土体（3）中的温度；f . 将所测剖面的温度数据建立坐标系，并进行网格划分，自遗址表面至内部的温度变化梯度若干个温度点，绘制温度等值线图；g. 与赋存环境数据进行对比，形成测试报告。