[发明专利]用于测试金属检测设备的方法及金属检测设备

摘要

一种能测试金属检测设备的方法，产品通过线圈系统，发射线圈的电流在第一接收线圈中感生的第一线圈信号与在第二接收线圈中感生的第二线圈信号在金属存在于产品中时不彼此补偿，使信号处理路径中产生输入信号，金属检测设备具有包括测试物品的测试装置。方法包括下述步骤：测试物品沿第一传输轴线通过检测区，并测量第一输入信号，第一阈值确定为使得第一输入信号的幅值超过阈值；相同的测试物品沿第二或另外的传输轴线通过检测区，并测量第二或另外的输入信号，第二阈值确定为使得第二或另外的输入信号的幅值超过第二或另外的阈值；每当测试物品沿第一、第二或另外的传输轴线移动时，在信号处理路径中选择相关的第一、第二或另外的阈值。

主权项

1.一种用于测试金属检测设备(9)的方法，所述金属检测设备(9)具有与输送通道(90)邻接的入口孔和出口孔(2A、2B)，产品(P)能够沿着所述输送通道(90)移动通过线圈系统(6)，所述线圈系统(6)限定检测区(60)并且包括发射线圈(61)和第一及第二接收线圈(62)，所述发射线圈(61)和第一及第二接收线圈(62、63)的尺寸被确定为使得施加到发射线圈(61)的电流在第一接收线圈(62)中感生第一线圈信号，并且在第二接收线圈(63)中感生第二线圈信号，第一线圈信号与第二线圈信号在金属(C)存在于被传输的所述产品(P)中时不彼此补偿，使得在所述金属检测设备(9)的信号处理路径(4、5)中产生输入信号，所述金属检测设备(9)还具有至少一个测试装置(7)，所述测试装置(7)包括能够移动通过所述检测区(60)的至少一个测试物品(79)；所述方法包括下述步骤：a)使所述测试物品(79)沿着第一传输轴线(ca)移动通过所述检测区(60)，并且测量第一输入信号；b)使同一或相同的测试物品(79)沿着第二或另外的传输轴线(ta；…)移动通过检测区(60)，并且测量第二或另外的输入信号；c)确定适用于沿着第一传输轴线(ca)移动的所述测试物品(79)的第一阈值(th1)，使得第一输入信号的幅值超过第一阈值(th1)；d)确定适用于沿着第二或另外的传输轴线(ta；…)移动的测试物品(79)的第二或另外的阈值(th2；…)，使得第二或另外的输入信号的幅值超过第二或另外的阈值(th2；…)；以及e)每当测试物品(79)沿着第一、第二或另外的传送轴线(ca；ta；…)移动时，在所述信号处理路径(4)中选择相关的第一、第二或另外的阈值(th1；th2；…)。