[发明专利]光谱曲线重构方法和装置

摘要

光谱曲线重构方法和装置。获取被测物的第一采样点的采样结果，第一采样点的采样结果包括该采样点的M个通道的采样信息；根据光源输出光谱函数分别与采样设备的M个采样信息的光谱响应函数的乘积,确定M个采样函数；根据冲击函数群和采样函数确定抽样数组矩阵；通过抽样数组矩阵和采样结果确定欠定方程组；根据冲击函数群和先验光谱函数确定系数S，通过对变量S取最小值的约束条件，从欠定方程组的多个解中确定一个为所述第一个采样点的光谱函数。本申请通过将先验光谱函数代入到光谱采样重构过程中，用以补足被测量光谱曲线的采样缺失。从而避免了使用过多的采样点数量、节约了成本，更能降低系统复杂程度。

主权项

1.一种光谱曲线重构方法，其特征在于，所述方法包括：/n光谱曲线重构设备确定被测物上W个采样点中第一个采样点的光谱函数，所述W为大于等于1的正整数；/n确定第一个采样点的光谱函数包括执行如下步骤：/n获取被测物的第一采样点的采样结果，所述第一采样点的采样结果包括该采样点的M个通道的采样结果，所述M为大于1的正整数；根据光源输出光谱函数分别与采样设备的M个采样通道的光谱响应函数的乘积,确定M个采样函数；根据冲击函数群和采样函数确定抽样数组矩阵；所述抽样数组矩阵中的一行是将M个采样函数中一个与冲击函数群中的N个单位冲击函数分别相乘确定；所述冲击函数群包括多个单位冲击函数；通过抽样数组矩阵和采样结果确定欠定方程组，所述欠定方程组包括多个解；根据冲击函数群和先验光谱函数确定变量S，通过取变量S的最小值作为约束条件，从所述欠定方程组的多个解中确定一个为所述第一个采样点的光谱函数；/n重复执行上述方法确定被测物的W个采样点中除第一个采样点外其他每个采样点的光谱函数，所述W个采样点的光谱函数的组合为所述被测物的光谱重构结果。/n