[发明专利]一种反极性AlGaInP四元LED芯片的粗化方法有效

专利信息
申请号: 201711081003.2 申请日: 2017-11-07
公开(公告)号: CN109755367B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 李晓明;闫宝华;刘琦;汤福国;陈康;郑兆河;肖成峰 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/26;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种反极性AlGaInP四元LED芯片的粗化方法,包括如下步骤:a)腐蚀掉GaAs衬底,并腐蚀掉外延生长的阻挡层GaInP;b)蒸镀一层GeAu膜,光刻制得欧姆接触电极图形;c)去除正性光刻胶,制得N面欧姆接触图形;d)通过光刻制得粗化保护图形;e)形成N型粗化层;f)对N型AlGaInP层进行湿法粗化,去除正性光刻胶,制得N型AlGaInP粗化表面。通过先将键合完成的AlGaInP四元LED芯片的衬底、阻挡层全部腐蚀去除,再在表面蒸镀上一层GeAu膜作为N型欧姆接触电极,再在表面制备粗化保护图形,通过粗化保护图形的作用将无粗化保护的N型AlGaInP层通过ICP刻蚀、湿法粗化的方式进行表面粗化处理,避免了反极性AlGaInP四元LED芯片粗化效果不稳定的问题,增加了出光效率,提升了芯片的品质。
搜索关键词: 一种 极性 algainp led 芯片 方法
【主权项】:
1.一种反极性AlGaInP四元LED芯片的粗化方法,其特征在于,包括如下步骤:a)键合完成的AlGaInP四元LED芯片腐蚀掉GaAs衬底,并腐蚀掉外延生长的阻挡层GaInP;b)将经过步骤a)处理后的AlGaInP四元LED芯片上通过电子束蒸镀方式蒸镀一层GeAu膜,在所述GeAu膜表面涂正性光刻胶,通过光刻制得欧姆接触电极图形;c)去除正性光刻胶,制得N面欧姆接触图形;d)在经过步骤c)处理后的AlGaInP四元LED芯片表面涂正性光刻胶,通过光刻制得粗化保护图形;e) 通过ICP刻蚀对AlGaInP四元LED芯片无粗化保护区域的重掺层去除且刻蚀到N型AlGaInP层,形成N型粗化层;f) 对N型AlGaInP层进行湿法粗化,去除正性光刻胶,制得N型AlGaInP粗化表面。
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