[发明专利]一种工件的质检方法、系统、综合系统及服务器在审

专利信息
申请号: 201711047171.X 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107917728A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 朱志浩;周昱晟;丁凯;夏晓 申请(专利权)人: 沈机(上海)智能系统研发设计有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 徐秋平
地址: 200433 上海市杨浦区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种工件的质检方法、系统、综合系统及服务器,包括以下步骤生成质检任务工单,并发送至终端设备;所述质检任务工单包括待测工件、待测参数和所需量具;接收所述终端设备发送来的某一量具的量具使用请求,判断所述量具是否满足预设条件,并在所述量具满足预设条件时向所述终端设备发送所述量具的量具使用许可;接收具有量具使用许可的所述量具发送来的测量数据,所述测量数据与所述待测工件的所述待测参数相对应。本发明的工件的质检方法、系统、综合系统及服务器能够实时获取工件的测量数据,快速进行质量问题溯源,从而极大地提升了生产效率和管理效率。
搜索关键词: 一种 工件 质检 方法 系统 综合 服务器
【主权项】:
一种工件的质检方法,其特征在于:包括以下步骤:生成质检任务工单,并发送至终端设备;所述质检任务工单包括待测工件、待测参数和所需量具;接收所述终端设备发送来的某一量具的量具使用请求,判断所述量具是否满足预设条件,并在所述量具满足预设条件时向所述终端设备发送所述量具的量具使用许可;接收具有量具使用许可的所述量具发送来的测量数据,所述测量数据与所述待测工件的所述待测参数相对应。
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