[发明专利]一种测试方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201711042868.8 | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN109728929B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 郇昌波 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L41/12 | 分类号： | H04L41/12;H04L43/08;G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试方法，包括：基于被测试设备配置工程拓扑图；基于预设的测试用例配置逻辑拓扑图；基于所述工程拓扑图和所述逻辑拓扑图进行拓扑适配，得到适配结果；基于所述适配结果及所述测试用例，对所述被测试设备进行测试。本发明还同时公开了两种测试装置及一种存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：基于被测试设备配置工程拓扑图；基于预设的测试用例配置逻辑拓扑图；基于所述工程拓扑图和所述逻辑拓扑图进行拓扑适配，得到适配结果；基于所述适配结果及所述测试用例，对所述被测试设备进行测试。
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