[发明专利]一种光谱成像装置有效

专利信息
申请号: 201711017359.X 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN108051083B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 祝晓勇;相连钦 申请(专利权)人: 宁波源禄光电有限公司
主分类号: G01J3/12 分类号: G01J3/12;G01J3/28
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 315800 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种光谱成像装置,把入射光传递入射狭缝或者针孔上;第二光学组件为折射校正镜,将入射光引导到凹面反射镜上,而反射的光照射到凸面反射衍射光栅上,使得色散的光谱照射到同一凹面反射镜,再穿过同一第二光学组件,经过第二光学组件光聚焦到探测器上,入射狭缝和探测器优选在折射校正镜的中心线的上下对称分布,能够使得入射狭缝部件远离探测面,从而确保一个体积较大的探测器或者其他装在光谱成像系统上的装置没有遮挡入射狭缝部件。
搜索关键词: 一种 光谱 成像 装置
【主权项】:
1.一种光谱成像装置,具有同一个穿过所有中心线的中心平面的光学系统,其特征在于:包括光输入装置、狭缝或者针孔、折射校正镜、凹面反射镜、凸面光栅和探测器,所述凹面反射镜位于所述折射校正器与所述凸面光栅之间,其中:所述光输入装置,是用于从光源接收入射光,将所述光传递到所述狭缝或所述针孔上的光纤系统,也可以是前置望远系统,所述前置望远系统为离轴三反系统或离轴二反系统;所述针孔,是在空间方向上具有一个针孔以上的阵列式针孔,调节光学系统的光谱分辨率和检验空间分辨率,所述入射光穿过针孔传递到所述折射校正镜;所述折射校正镜,用于对穿过的光线会聚并校正像差,增大光学系统的数值孔径NA,所述光穿过折射校正镜传递到所述凹面反射镜;所述凹面反射镜,用于和所述折射校正镜对经过的光线会聚并校正像差,所述光经过凹面反射镜反射到凸面光栅;所述凸面光栅,通过衍射光栅的色散特性把所述入射光中不同波长分开形成光谱,所述光谱传回所述凹面反射镜,经反射回所述折射校正器,所述折射校正镜结合所述凹面反射镜对光谱线会聚并校正像差,最后光谱聚焦到所述探测器上;所述光学系统具有同一个穿过所有中心线的中心平面(YOZ),用于从光源接收入射光,将所述入射光投射到凸面光栅上,再将从所述凸面光栅传回的所述光谱聚焦到探测器上;所述狭缝或针孔和所述探测器在所述中心平面的相反侧上是对称位置的,并且投射到所述凸面光栅上的所述入射光和从所述凸面光栅而传回的所述光谱各自经过相同光学元件,且所述入射光不加准直就被传递到所述凸面光栅。
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