[发明专利]电磁超材料等效磁导率的测量方法在审
申请号: | 201711002588.4 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN107797083A | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 洪振翔;赵春宇;黄震宇;罗旭东;朱慧;朱森林 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种电磁超材料等效磁导率的测量方法,包括步骤设计测试线圈;确定测量频率范围和测量频率点;向测试线圈依次施加不同频率电流测量空载测试线圈的电感值;向测试线圈依次施加不同频率电流测量内置电磁超材料的测试线圈的电感值;逐点计算电磁超材料的等效磁导率;获得频率变化范围ω1~ωn内的电磁超材料的等效磁导率。本发明适用性强,操作便捷,计算简洁,具有良好的应用效果。 | ||
搜索关键词: | 电磁 材料 等效 磁导率 测量方法 | ||
【主权项】:
一种电磁超材料等效磁导率的测量方法,其特征在于该方法包括以下步骤:1)根据待测电磁超材料的结构设计测试线圈,以确保待测电磁超材料的四周被测试线圈良好包覆;2)根据待测电磁超材料的测试的频率变化范围ω1~ωn,选择电流源,确定测量频率ω1、ω2、…、ωn;3)向所述的测试线圈施加电流I(ω1)、I(ω2)、…、I(ωn),利用电感测试设备测量空载测试线圈的电感值依次为L0(ω1)、L0(ω2)、…、L0(ωn);4)在测试线圈线圈内放入待测电磁超材料,向测试线圈依次施加电流I(ω1)、I(ω2)、…、I(ωn),利用电感测试设备依次测量内置电磁超材料的测试线圈的电感值为L(ω1)、L(ω2)、…、L(ωn);5)按下列公式计算电磁超材料的等效磁导率μeff(ω):μeff(ω)=L(ω)/L0(ω);6)获得频率变化范围ω1~ωn内的电磁超材料的等效磁导率依次为μeff(ω1)、μeff(ω2)、…、μeff(ωn)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711002588.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。