[发明专利]数据纠错方法及装置有效
申请号: | 201710994465.7 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN109697993B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 付永庆;张建军;张赛;刘言言 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G06F11/10 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种数据纠错方法及装置,包括:编程模块将编程数据存储在选定地址中,作为待纠错数据;编码模块根据待纠错数据产生纠错代码;纠错使能模块根据选定地址对应的继承纠错数据、继承纠错代码和继承纠错使能位,生成选定地址的当前纠错使能位;解码模块从选定地址中读取待纠错数据,从纠错存储阵列中获取纠错代码,并根据待纠错数据和纠错代码产生纠错密码;纠错模块根据所述当前纠错使能位,判断关闭纠错运算或者进行所述纠错运算并输出修正数据。本发明实施例的技术方案,通过设置了纠错使能位,进行错误检查和纠正时,避免了对闪存中的存储单元误纠错问题。 | ||
搜索关键词: | 数据 纠错 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种数据纠错方法,其特征在于,包括:编程模块获取编程数据以及数据存储阵列中待存储所述编程数据的选定地址,将所述编程数据存储在所述选定地址中,作为待纠错数据;编码模块根据所述待纠错数据产生纠错代码,并将所述纠错代码存储在纠错存储阵列中;纠错使能模块根据所述选定地址对应的继承纠错数据、继承纠错代码和继承纠错使能位,生成所述选定地址的当前纠错使能位;解码模块从选定地址中读取所述待纠错数据,从纠错存储阵列中获取所述纠错代码,并根据所述待纠错数据和所述纠错代码产生纠错密码;纠错模块根据所述当前纠错使能位,判断关闭纠错运算或者进行所述纠错运算并输出修正数据;所述选定地址对应的继承纠错代码为所述编码模块根据前一次在所述选定地址中存储的所述待纠错数据产生的纠错代码,所述选定地址对应的继承纠错使能位为前一次所述纠错使能模块产生的与所述选定地址对应的当前纠错使能位,所述选定地址对应的继承纠错数据为所述纠错模块前一次对所述选定地址存储的数据进行纠错运算而输出的修正数据。
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