[发明专利]一种随机密钥的测试模式保护方法及电路在审
| 申请号： | 201710990097.9 | 申请日： | 2017-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN107966644A | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 王辉 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H04L9/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种随机密钥的测试模式保护方法及电路，该电路包括用于接收测试模式序列和密钥的接收逻辑、产生NVM控制信号的NVM控制逻辑、用于存储信息的NVM存储器、用于解密NVM存储密钥的解密逻辑、用于比较密钥的数据比较逻辑、用于产生随机密钥的随机数发生器、以及相关寄存器等。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 随机 密钥 测试 模式 保护 方法 电路 | ||
【主权项】：
一种随机密钥的测试模式保护电路，其特征在于：由接收逻辑、NVM控制逻辑、NVM存储器、解密逻辑、数据比较逻辑、随机数发生器、若干组用于装载信息的数据寄存器、以及其它相关的组合逻辑等构成,其中：若干组用于装载信息的数据寄存器包括输入密钥寄存器和NVM密钥寄存器。
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