[发明专利]用于样品的分析检验的测试元件分析系统

摘要

公开了一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统、一种用于将测试元件定位在用于执行样品的分析检验的测量用装置中的方法、以及一种用于样品的分析检验的方法。测试元件分析系统包括：测量装置，其包括用于接收测试元件的测试元件容座，测试元件容座包括第一部分和第二部分，第一部分包括用于放置测试元件的支撑表面，第二部分包括用于与测试元件的对准孔接合的对准销，第二部分能够沿基本上垂直于支撑表面的方向相对于第一部分而移动，测试元件容座配置成相对于第一部分将第二部分定位在至少三个不同位置中，包括用于将测试元件插入到测试元件容座中的中间位置、用于执行测量的闭合位置、以及用于从测试元件容座移除测试元件的开启位置。

主权项

一种用于样品的分析检验的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统（110）包括测量装置（114），所述测量装置（114）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（118）的测试元件容座（116），其中，所述测试元件容座（116）包括至少一个第一部分（122）和至少一个第二部分（124），其中，所述第一部分（122）包括用于放置所述测试元件（118）的至少一个支撑表面（126），其中，所述第二部分（124）包括用于与所述测试元件（118）的至少一个对准孔（130）接合的至少一个对准销（128），其中，所述第二部分（124）能够沿基本上垂直于所述支撑表面（126）的方向（132）相对于所述第一部分（122）而移动，其中，所述测试元件容座（116）配置成相对于所述第一部分（122）将所述第二部分（124）定位在至少三个不同位置中，所述至少三个不同位置包括用于将所述测试元件（118）插入到所述测试元件容座（116）中的中间位置（134）、用于执行测量的闭合位置（164）以及用于从所述测试元件容座（116）移除所述测试元件（118）的开启位置（166），‑ 其中，在所述闭合位置（164）中，所述对准销（128）突出穿过所述对准孔（130），‑ 其中，在所述开启位置（166）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，使得可从所述测试元件容座（116）自由地移除所述测试元件（118），并且‑ 其中，在所述中间位置（134）中，所述第一部分（122）和所述第二部分（124）被隔开，使得可将所述测试元件（118）插入到所述测试元件容座（116）中，而所述对准销（128）定位成使得所述测试元件（118）在所述插入期间由所述对准销（128）而弹性地变形，直到所述对准销（128）卡入到所述对准孔（130）中。