[发明专利]光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201710946936.7 | 申请日： | 2017-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN107561746B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张军 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 滕一斌 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光配向膜的配向能力检测方法、装置及存储介质，属于配向膜领域。所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，第一表面电阻值是待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取待测光配向膜的第二表面电阻值，第二表面电阻值是待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于第二线段与第一目标方向的第二夹角；当第一表面电阻值和第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定待测光配向膜的配向能力合格。本发明的配向能力的检测可以不受基板反光能力的限制，从而提高了光配向膜配向能力检测的适用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 能力 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种光配向膜的配向能力检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测光配向膜的第一表面电阻值，所述第一表面电阻值是所述待测光配向膜上的第一线段的两个端点之间的电阻值；获取所述待测光配向膜的第二表面电阻值，所述第二表面电阻值是所述待测光配向膜上的第二线段的两个端点之间的电阻值，所述第一线段与第一目标方向的第一夹角不等于所述第二线段与所述第一目标方向的第二夹角，所述第一目标方向为在制备所述待测光配向膜时使用的线性偏振光的偏振方向；当所述第一表面电阻值和所述第二表面电阻值的差距大于或等于预设差距阈值时，确定所述待测光配向膜的配向能力合格。
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