[发明专利]TFT基板及其制作方法与OLED面板及其制作方法有效
申请号: | 201710931305.8 | 申请日: | 2017-10-09 |
公开(公告)号: | CN107689345B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 刘兆松;徐源竣 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L27/32 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;闻盼盼 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板及其制作方法与OLED面板及其制作方法。本发明的TFT基板的制作方法首先在缓冲层上形成覆盖栅极与有源层的第一层间绝缘层,并将第一层间绝缘层的材料设置为氮氧化硅,能够保护栅极表面的金属铜不被氧化,保证栅极性能稳定,同时防止过多的氢元素被引入到有源层中;进一步的,在第一层间绝缘层上方形成第二层间绝缘层,并将第二层间绝缘层的材料设置为氧化硅,能够避免过多的氢元素被引入到有源层中,保证有源层的性能稳定,提升TFT器件的工作稳定性。本发明的TFT基板采用上述TFT基板的制作方法制得,其栅极与有源层的性能稳定,TFT器件具有较强的工作稳定性。 | ||
搜索关键词: | tft 及其 制作方法 oled 面板 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上形成遮光层(20),在所述衬底基板(10)上形成覆盖所述遮光层(20)的缓冲层(30),在所述缓冲层(30)上形成对应于所述遮光层(20)上方的有源层(40),所述有源层(40)的材料为金属氧化物半导体材料;步骤2、在所述有源层(40)上形成栅极绝缘层(50),在所述栅极绝缘层(50)上形成栅极(60),所述栅极(60)与栅极绝缘层(50)上下对齐,所述栅极(60)与栅极绝缘层(50)在有源层(40)上限定出对应于栅极绝缘层(50)下方的沟道区(41)以及分别位于沟道区(41)两侧的源极接触区(42)与漏极接触区(43);对有源层(40)的源极接触区(42)与漏极接触区(43)进行导体化处理,使源极接触区(42)与漏极接触区(43)的金属氧化物半导体材料变为导体,沟道区(41)的金属氧化物半导体材料保持半导体特性;步骤3、在所述缓冲层(30)上形成覆盖所述栅极(60)与有源层(40)的第一层间绝缘层(71),所述第一层间绝缘层(71)的材料包括氮氧化硅;在所述第一层间绝缘层(71)上形成第二层间绝缘层(72),所述第二层间绝缘层(72)的材料包括氧化硅;步骤4、在所述第一层间绝缘层(71)与第二层间绝缘层(72)上形成分别对应于源极接触区(42)与漏极接触区(43)上方的第一通孔(721)与第二通孔(722);在所述第二层间绝缘层(72)上形成源极(81)与漏极(82),所述源极(81)与漏极(82)分别通过第一通孔(721)与第二通孔(722)和有源层(40)的源极接触区(42)与漏极接触区(43)电性连接,制得TFT基板(100)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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