[发明专利]一种基于PI模型的容许土壤流失量计算方法在审

专利信息
申请号: 201710911799.3 申请日: 2017-09-29
公开(公告)号: CN107766692A 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 段兴武;师小宁 申请(专利权)人: 云南大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)11638 代理人: 王新爱
地址: 650091*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 一种基于PI模型的容许土壤流失量计算方法,涉及农业水土保持技术领域。本发明将土壤生产力评价模型PI模型与容许土壤流失量理想方程结合起来,利用调查得到的土壤剖面数据,计算其生产力指数以及土壤侵蚀对该指数的影响,基于维持土壤生产力的目标来定量评价容许土壤流失量T值。其优点一是用PI模型评价土壤生产力水平,较土壤厚度更为客观综合,且具有可操作性,土壤生产力的保护目标等参数也可计算获得,各项参数的获得具有客观合理性和可实现性;二是土壤使用时间一直是计算T值中最难确定的参数,本发明确定的计算方法可通过定期土壤调查获得土壤生产力指数,进而更新目标土壤的T值,为土壤使用时间的确定提供了合理有效的方法。
搜索关键词: 一种 基于 pi 模型 容许 土壤 流失量 计算 方法
【主权项】:
一种基于PI模型的容许土壤流失量计算方法,其特征在于包括以下步骤:①布设监测样点及野外调查:根据研究区的范围及实际情况,分土壤类型、土地利用、地貌部位等确定监测样点的位置和数量,选择和布设考虑监测样点要兼顾坡顶、坡肩、坡背和坡脚四个坡位,微地貌条件尽量保持一致,避开浅沟/切沟/人工排水沟等扰动地区,作物类型、品种、管理方式须保持一致,野外调查包括了典型剖面调查和作物产量调查,典型剖面调查是通过GPS定位仪器找到已定调查样点的准确位置,利用半圆取土钻采集剖面原状样本,确定土壤发生层和侵蚀状况,挖取剖面并按照土壤发生层分别采集原状土壤样本和混合土壤样本,以供测定土壤的理化性质,作物产量调查采取农户调查的形式,调查剖面地土种所播种的主要农作物、大概产量、农业投入、耕作方式、水土保持措施等信息;②测定研究区土壤理化性质:土壤理化性质测定指标包括有机质含量、pH、有效含水量、黏粒含量;③计算土壤生产力指数(PI):利用修订后的PI模型,分层计算各样点的土壤生产力指数,公式如下,PI=Σi=1n(Ai×Di×Oi×CLi×WFi)]]>式中,PI是土壤生产力指数,变化在0‑1之间,i是土层的数量,n是根系深度内土层的总数,Ai代表第i层土壤有效含水量的适应性指数,Di表示第i层土壤pH的适应性指数,Oi表示第i层土壤的有机质含量适宜性指数,CLi表示第i层土壤黏粒含量的适应性指数,WFi为第i层土壤的权重;④计算容许土壤流失量(T值):将土壤生产力指数(PI)模型与Skidmore改进后的T值计算方程融合,用土壤生产力指数(PI)代替土层深度(Z),计算典型区域不同土壤类型的T值,公式如下,T(x,y,t)=T1......................................................PI≤PI1T(x,y,t)=T1+T22-(T2-T1)/2cos(π(PI-PI1)PI2-PI1).........PI1<PI<PI2T(x,y,t)=T2......................................................PI≥PI2]]>式中,T(x,y,t)是点(x,y)处的T值,T1是T的下限,T2是T的上限,PI是当前的土壤生产力,PI1是最低容许土壤生产力指数,PI2是最佳的土壤生产力指数,T1是特定点(x,y)土壤生产力降低到最低容许值(PI1)时T值的下限,且土壤侵蚀率应不低于T1。
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