[发明专利]硅中空梁、基于硅中空梁的硅微加速度计及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710909259.1 申请日: 2017-09-29
公开(公告)号: CN107782915B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 肖定邦;吴学忠;侯占强;周剑;卓明;苗桐侨;李青松;欧芬兰 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01P15/125 分类号: G01P15/125
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 谭武艺
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种硅中空梁、基于硅中空梁的硅微加速度计及其制备方法,硅中空梁包括由SOI硅片采用干法腐蚀加工工艺形成的梁本体,且其横截面为中空形;微加速度计包括连接为一体的硅敏感结构和硅基板,硅敏感结构包括支撑梁以及敏感质量块组件,支撑梁的横截面为前述的硅中空形梁,敏感质量块组件通过支撑梁固定于固定锚点上;制备方法包括采用干法腐蚀加工制备的硅敏感结构;将硅敏感结构与带有电容板组件和引线电极的硅基板采用硅‑硅低应力键合,得到微加速度计。本发明具有抗干扰能力强、器件面积小、成品率高、成本低、稳定性高、加工质量高、加工鲁棒性好、应用范围广的优点。
搜索关键词: 中空 基于 加速度计 及其 制备 方法
【主权项】:
一种硅中空梁,其特征在于:包括由SOI硅圆片采用干法腐蚀加工工艺形成的梁本体,所述梁本体由两条子梁(3)相互平行构成,且两条子梁(3)之间设有中空部(31),所述中空部(31)以及梁本体两侧的蚀空位(32)均为通过干法腐蚀加工工艺在同一块掩膜板进行干法腐蚀加工形成。
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