[发明专利]一种特高频局部放电检测方法

摘要

本发明涉及一种特高频局部放电检测方法。现有方法存在诸多缺点。本发明方法是将平板天线布置在带浇注孔屏蔽层的盆式绝缘子的绝缘子本体与屏蔽层之间，平板天线与屏蔽层通过绝缘层绝缘；屏蔽层的浇注孔的正投影位于平板天线范围内，浇注孔的顶面通过金属盖板封闭。将信号输出接头设置在金属盖板上，信号输出接头与信号调理电路的输出端通过射频线缆连接，信号调理电路的输入端与平板天线通过馈线连接。将信号输出接头的接地保护盖旋转拧出，接入外部接口，通过外接线缆传输至后台特高频检测仪器，即可采集分析特高频信号。本发明方法将天线内置到绝缘盆子内，屏蔽性能优越、抗干扰性好、检测效率高、维护方便。

主权项

1.一种特高频局部放电检测方法，其特征在于该方法是将平板天线布置在带浇注孔屏蔽层的盆式绝缘子的绝缘子本体与屏蔽层之间，平板天线与屏蔽层通过绝缘层绝缘，平板天线即为特高频传感器；屏蔽层的浇注孔的正投影位于平板天线范围内；浇注孔的侧壁为金属屏蔽层，底部为绝缘层，顶面通过金属盖板封闭；/n将信号输出接头设置在金属盖板上，信号输出接头与信号调理电路的输出端通过射频线缆连接，信号调理电路的输入端与平板天线通过馈线连接；/n将信号输出接头的接地保护盖旋转拧出，接入外部接口，通过外接线缆传输至后台特高频检测仪器，即可采集分析特高频信号；/n具体实现方法如下：/n将圆环形的金属屏蔽层(4)包覆在绝缘材料的全封闭绝缘盆子本体(1)的沿壁外表面，金属屏蔽层(4)上开有浇注孔(5)，浇注孔(5)沿径向贯穿金属屏蔽层(4)；金属屏蔽层(4)内壁对应浇注孔(5)位置开有天线槽，浇注孔(5)的向内开口在天线槽槽底范围内；与天线槽槽底形状匹配的弧面平板天线(2)和弧面绝缘片(3)嵌入天线槽内，其中弧面平板天线(2)与绝缘盆子本体(1)的沿壁相贴，弧面绝缘片(3)与弧面平板天线(2)的弧面贴合，弧面平板天线(2)与金属屏蔽层(4)之间通过弧面绝缘片(3)绝缘，弧面平板天线(2)与弧面绝缘片(3)的弧面相贴合，其投影面积大于浇注孔(5)的投影面积；弧面平板天线(2)即为特高频传感器；/n所述的浇注孔(5)的侧壁为台阶状，浇注孔(5)的顶部设置有金属盖板(6)，金属盖板(6)设置在台阶(5-1)上，通过螺丝与金属屏蔽层(4)固定连接；浇注孔(5)的侧壁为金属屏蔽层(4)、底部为弧面绝缘片(3)、顶部为金属盖板(6)，围合成封闭的安装腔体，信号调理电路板设置在该安装腔体内；/n所述的金属盖板(6)上开有信号输出接头安装孔(6-1)；信号输出接头穿过信号输出接头安装孔(6-1)固定设置在金属盖板(6)上，信号输出接头通过馈线与弧面平板天线(2)相接，采集GIS内部的特高频局放信号，通过外接线缆传输至后台特高频检测仪器，分析特高频信号。/n