[发明专利]用于X射线层析摄影术的布置有效

专利信息
申请号: 201710881209.7 申请日: 2017-09-26
公开(公告)号: CN107917923B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: P.斯特斯卡;M.昂科夫斯基;T.韦伊斯塔维;A.F.德荣格;B.布伊斯塞;P.布勒伊特 申请(专利权)人: FEI公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌;杜荔南
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种使用X射线层析摄影术研究样本的方法,包括:(a)将样本安装到样本保持器;(b)沿着通过样本的第一视线利用X射线射束辐照样本;(c)检测透射通过样本的X射线通量并且形成第一图像;(d)针对通过样本的不同视线的系列而重复步骤(b)和(c),由此产生对应图像系列;(e)在所述图像系列上执行数学重建,以便产生样本的至少一部分的层析图,其中:样本设置在具有相关联的柱形轴线的基本上柱形的金属外壳内;通过将带电粒子射束定向到所述金属外壳的分区上而产生所述X射线射束,以便在所述分区处产生受限X射线源;所述不同视线的系列通过围绕所述柱形轴线旋转所述外壳而实现,由此引起所述分区相对于样本的相对运动。
搜索关键词: 用于 射线 层析 摄影术 布置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710881209.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top