[发明专利]一种电成像测井图像刻度方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710866241.8 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN107797154B 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 冯周;武宏亮;李宁;王克文;冯庆付;李雨生 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V3/20 分类号: G01V3/20;G01V3/34
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种电成像测井图像刻度方法及装置。所述方法包括:采集待分析井段的电成像测井资料,根据电成像测井资料获取电成像测井图像;根据电成像测井图像计算待分析井段中不同深度点对应的电成像测井平均电流一;根据电成像测井平均电流一和预先获取的常规测井资料,构建电成像测井平均电流一与常规测井浅电阻率之间的响应函数;根据响应函数和电成像测井图像,计算待分析井段中不同深度窗对应的深度窗平均电流二;根据深度窗平均电流二和常规测井资料,计算不同深度窗对应的刻度系数;根据刻度系数对电成像测井图像进行刻度。所述装置可以用于执行上述方法。利用本申请中各个实施例,可以提高电成像测井图像刻度的准确性,以及测井资料的处理效率。
搜索关键词: 一种 成像 测井 图像 刻度 方法 装置
【主权项】:
1.一种电成像测井图像刻度方法,其特征在于,所述方法包括:采集待分析井段的电成像测井资料,根据所述电成像测井资料获取电成像测井图像;根据所述电成像测井图像计算所述待分析井段中不同深度点对应的电成像测井平均电流一;根据所述电成像测井平均电流一和预先获取的常规测井资料,构建所述电成像测井平均电流一与常规测井浅电阻率之间的响应函数;根据所述响应函数和所述电成像测井图像,计算所述待分析井段中不同深度窗对应的深度窗平均电流二;根据所述深度窗平均电流二和所述常规测井资料,计算不同深度窗对应的刻度系数;根据所述刻度系数对所述电成像测井图像进行刻度;其中,所述根据所述电成像测井平均电流一和预先获取的常规测井资料,构建所述电成像测井平均电流一与常规测井浅电阻率之间的响应函数,包括:将所述电成像测井平均电流一划分为预定数量个电流区间;将所述电流区间内的电成像测井平均电流一和所述电流区间对应的常规测井浅电阻率进行函数拟合,获取不同的所述电流区间对应的区间函数;根据所述区间函数,构建所述电成像测井平均电流一与常规测井浅电阻率之间的分段函数,将所述分段函数作为所述响应函数。
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