[发明专利]用于对物体成像的PET-MRI系统及其成像的方法及其表面线圈有效
| 申请号： | 201710839811.4 | 申请日： | 2017-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN107831463B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 李佳琪;A.拜申克;C.戈斯瓦米;王同舟 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01R33/48 | 分类号： | G01R33/48;G01R33/341 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 郑浩;刘春元 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于对物体成像的PET‑MRI系统。所述PET‑MRI系统包括磁共振成像子系统、正电子发射断层扫描子系统、光学传感器和数据处理控制器。磁共振成像子系统包括从物体采集磁共振信号的表面线圈。正电子发射断层扫描子系统从物体采集PET发射。光学传感器检测表面线圈的空间位置和形状中的至少一者。数据处理控制器与磁共振成像子系统、正电子发射断层扫描子系统和光学传感器通信，并且利用表面线圈的检测到的空间位置和检测到的形状中的至少一者来针对衰减校正采集的PET发射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 物体 成像 pet mri 系统 及其 方法 表面 线圈 | ||
【主权项】：
一种用于对物体成像的PET‑MRI系统，包括：磁共振成像子系统，其包括表面线圈，所述表面线圈用于从所述物体采集磁共振信号；正电子发射断层扫描子系统，其用于从所述物体采集PET发射；光学传感器，其用于检测所述表面线圈的空间位置和形状中的至少一者；数据处理控制器，其与所述磁共振成像子系统、所述正电子发射断层扫描子系统和所述光学传感器通信；并且其中，所述数据处理控制器利用所述表面线圈的所述检测到的空间位置和所述检测到的形状中的至少一者来针对衰减校正所述采集的PET发射。
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