[发明专利]检测中间体小孔与大孔及平面位置度的专用检具在审
申请号: | 201710821706.8 | 申请日: | 2017-09-11 |
公开(公告)号: | CN109489516A | 公开(公告)日: | 2019-03-19 |
发明(设计)人: | 潘文明 | 申请(专利权)人: | 科华控股股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213354 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明为一种中间体小孔与大孔及平面位置度的专用检具。美国Honeywell公司的一种中间体与中心轴孔垂直相交的小孔与轴承孔及基准端面有 |
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搜索关键词: | 小孔 专用检具 平面位置 中心孔 大孔 在线过程控制 位置度误差 中心孔轴线 坐标测量仪 垂直相交 端面距离 基准端面 基准光轴 水平垂直 中心轴孔 百分表 等高轴 位置度 一次性 圆锥轴 轴承孔 放入 检具 漏检 误检 读出 耗时 检测 | ||
【主权项】:
1.检测中间体小孔与大孔及平面位置度的专用检具,其特征在于:在底座上部用螺钉安装有平面导轨,导轨一端的底座上装有表具固定座,在表具固定座上沿水平及垂直方向装有测头座,测头座中装有可移动的弹性测头,测头座外端部装有百分表,在平面导轨上部装有可水平移动的定位滑台,定位滑台上装有圆形定位座,定位座中部孔中装有可垂直移动的圆锥形定心轴,定心轴下端有弹簧支撑,在定位滑台上一端装有压紧架,在平面导轨两侧装有径向定位挡铁,基准光轴装入中间体小孔中,等高轴装入中间体中心孔上部。
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