[发明专利]一种用于微距测量的方法及装置在审
| 申请号： | 201710808755.8 | 申请日： | 2017-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN109489557A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 李光煌;罗辉;袁帆;朱鹏惠;刘波;李耀军;韩仲亮 | 申请（专利权）人： | 深圳市赛亿科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于微距测量的方法，其包括：获取待测量物体的照片，以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0；确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1，所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应；结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算，得出比值A；选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的两个端点，并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点；确定所述相对应的两个点之间的距离L2；结合所述值A与所述两个点之间的距离L2，计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3。 | ||
| 搜索关键词： | 待测量物体 尺寸数据 测量 实物 量取 微距 运算 | ||
【主权项】：
1.一种用于微距测量的方法，其特征在于，包括：获取待测量物体的照片，以及所述待测量物体实物的尺寸数据L0；确定所述待测量物体的照片上两个点之间的距离L1，所述两个点与所述尺寸数据L0在被量取时所选择的两个端点相对应；结合所述两个点之间的距离L1与所述尺寸数据L0进行运算，得出两者的比值A；选择所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3在被量取时所选择的的两个端点，并在所述待测量物体的照片上找到相对应的两个点；确定所述相对应的两个点之间的距离L2；结合所述值A与所述两个点之间的距离L2，计算出所述待测量物体实物上要测量的尺寸数据L3。
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