[发明专利]一种嵌入无沟道型LDPMOS的双向可控硅静电防护器件在审

专利信息
申请号: 201710799069.9 申请日: 2017-09-07
公开(公告)号: CN107452735A 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 汪洋;董鹏;金湘亮;郑亦菲 申请(专利权)人: 湖南静芯微电子技术有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410199 湖南省长沙市长沙经*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种嵌入无沟道型LDPMOS的双向可控硅静电防护器件,包括P型衬底;形成于P型衬底上的第一N型深阱和第二N型深阱;设置于P型衬底上的P阱;位于第一N型深阱、第二N型深阱和P阱的八个掺杂区第一N+注入区、第一P+注入区、第一Poly注入层、第二P+注入区,第三P+注入区、第二Poly注入层、第四P+注入区、第二N+注入区,第二P+注入区横跨第一N型深阱和P阱,第一Poly注入层跨接在第一P+注入区上但是没有跨接在第二P+注入区上;第三P+注入区横跨第二N型深阱和P阱,第二Poly注入层跨接在第四P+注入区上但是没有跨接在第三P+注入区上。本发明通过嵌入无沟道型LDPMOS可在降低器件触发电压的同时增强器件泄放静电的能力,且具有双向泄放静电的能力。
搜索关键词: 一种 嵌入 沟道 ldpmos 双向 可控硅 静电 防护 器件
【主权项】:
一种嵌入无沟道型LDPMOS的双向可控硅静电防护器件,其特征在于,包括:P型半导体衬底;形成于P型衬底内的第一N型深阱,P阱,第二N型深阱;第一N型深阱内从左到右依次有第一N+注入区、第一P+注入区、第一Poly注入层、第二P+注入区,第一Poly注入层跨接在第一P+区和第二P+区之间,第一Poly注入层跨接在第一P+注入区上但是没有跨接在第二P+注入区上,第二P+注入区横跨第一型N深阱和第一P阱;第二N型深阱内从左到右依次有第三P+注入区、第二Poly注入层、第四P+注入区,第二N+注入,第二Poly注入层跨接在第三P+区和第四P+区之间,第二Poly注入层跨接在第四P+注入区上但是没有跨接在第三P+注入区上,第三P+注入区横跨第一P阱和第二N型深阱;所述第一N+注入区、第一P+注入区和第一Poly注入层接阴极;所述第二Poly注入层、第四P+注入区和第二N+注入区接阳极。
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