[发明专利]主观式验光装置及主观式验光程序有效
| 申请号： | 201710787259.9 | 申请日： | 2017-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN107788946B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 泷井通浩;羽根渊昌明;河合规二 | 申请（专利权）人： | 尼德克株式会社 |
| 主分类号： | A61B3/032 | 分类号： | A61B3/032 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 高培培;谢丽娜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种主观式验光装置及主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性时，高精度地测定被检眼的光学特性。该主观式验光装置主观地测定被检眼的光学特性，具备：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定被检眼的光学特性，其中，主观式验光装置包括：客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定被检眼的光学特性；以及控制单元，在通过主观式测定部主观地测定被检眼的光学特性的期间，通过客观式测定部客观地测定被检眼的光学特性。 | ||
| 搜索关键词： | 主观 验光 装置 程序 | ||
【主权项】：
一种主观式验光装置，主观地测定被检眼的光学特性，其特征在于，包括：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性；客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性；以及控制部，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性。
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