[发明专利]基于FCN的TFT-LCD表面缺陷快速检测方法有效
| 申请号： | 201710764659.8 | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN107561738B | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 欧先锋;张国云;吴健辉;郭龙源;彭鑫;涂兵;周建婷 | 申请（专利权）人： | 湖南理工学院 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 414000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 为了克服TFT‑LCD表面缺陷检测中边缘模糊、对比度低、图像中存在重复纹理背景等噪声的干扰，本发明提出了一种基于全卷积神经网络的端到端的快速检测方法。该方法先通过多个样本训练得到FCN_21×21检测模型，之后将对待检测图像进行预处理，获得多个子图像，计算机的多个处理核对多个子图像进行并行处理，所述处理为使用训练后的FCN_21×21检测模型对子图像进行缺陷检测，最后将多个并行处理结果进行合成，获得待检测图像的缺陷检测结果。本发明的方法对于高分辨率图像具有很好的检测效果，同时在处理速度上也具有突出的性能优势。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fcn tft lcd 表面 缺陷 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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