[发明专利]指纹识别芯片测试设备在审

专利信息
申请号: 201710754031.X 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN107329078A 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 刘三利;王露露;张佳佳;潘杰;李文斌 申请(专利权)人: 中科芯集成电路股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 总装工程兵科研一所专利服务中心32002 代理人: 杨立秋
地址: 214000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种指纹识别芯片测试设备,属于集成电路测试领域。该指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和指纹模拟组件,该指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,至少包含两组探针用于连接指纹识别芯片和测试机的探针模组,芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片,指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触,探针模组的至少两组探针与承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。本发明生产过程中通过电机带动指纹识别芯片基板逐列进行测试,每次同时测试多颗,大大提高了指纹识别芯片测试效率。
搜索关键词: 指纹识别 芯片 测试 设备
【主权项】:
一种指纹识别芯片测试设备,其特征在于,所述指纹识别芯片测试设备包括用于承载芯片基板的承载台、探针模组和和指纹模拟组件,所述指纹模拟组件包括至少两个用于模拟指纹信息的指纹模拟头,所述探针模组包含至少两组探针,所述至少两组探针用于连接指纹识别芯片和对所述指纹识别芯片是否合格进行判定的测试机,所述芯片基板铺设有至少两个指纹识别芯片,所述指纹模拟组件的至少两个指纹模拟头与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片一一相对接触,所述探针模组的至少两组探针与所述承载台上的同数量的指纹识别芯片上部一一对应接触。
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