[发明专利]柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片有效

专利信息
申请号: 201710746185.4 申请日: 2017-08-26
公开(公告)号: CN107634075B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 高志远;赵立欢;张洁;薛晓玮;邹德恕 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L31/0236;H01L31/0296;H01L31/18;B82Y30/00;B82Y15/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 张立改
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片,涉及紫外焦平面探测器技术领域。在具有周期性纹理的聚酰亚胺柔性衬底上制备紫外探测器阵列,每个探测器作为感光像元。每个像元器件包括两个独立平行对称的ZnO薄膜,其上为金属电极薄膜。所述ZnO薄膜为ZnO纳米线生长的种子层。作为感光部分的纳米材料ZnO纳米线阵列在ZnO薄膜的侧壁自组织生长,桥接于两电极之间。紫外光由衬底背面入射。本发明以柔性材料为衬底,具有良好的柔韧性。同时,器件层结构简单,采用ZnO纳米材料,设计灵活,可实现高度的均匀性及探测效率。
搜索关键词: 柔性 背照全透式 纳米 紫外 平面 探测器 芯片
【主权项】:
一种柔性背照全透式纳米紫外焦平面探测器芯片,其特征在于,在柔性衬底上制备紫外探测器阵列,每个探测器作为一个感光像元;每个像元器件包括平行对称的两个独立的ZnO薄膜,ZnO薄膜上为金属电极薄膜,作为感光部分的纳米材料ZnO纳米线阵列在ZnO薄膜的相对的两侧壁间自组织生长,桥接于两电极之间,紫外光由衬底背面入射。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710746185.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top