[发明专利]一种工件表面缺陷检测方法及系统有效
| 申请号： | 201710742244.0 | 申请日： | 2017-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN107543828B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 尹志锋;张平;张美杰;张明杰 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/10;G06T3/40;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510062 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种工件表面缺陷检测方法及系统，该方法包括：根据待测工件图像的纹理周期特性，对所述待测工件图像进行分割，得到待测单元图集；分别将所述待测单元图集中的每张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对，得到与所述待测单元图集对应的缺陷单元图集；对所述缺陷单元图集进行拼接，得到相应的拼接图像；对所述拼接图像上的缺陷进行检测，得到相应的工件表面缺陷信息。本发明公开的工件表面缺陷检测方法及系统，将待测工件图像合理分割，利用待测单元图与预设标准单元图进行比对，得到缺陷单元图，再将缺陷单元图进行拼接，最终得到工件的缺陷信息。由于使用了较小的单元图进行比对，使工控机的处理速度加快，提高了缺陷检测速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工件 表面 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种工件表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：根据待测工件图像的纹理周期特性，对所述待测工件图像进行分割，得到待测单元图集；分别将所述待测单元图集中的每张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对，得到与所述待测单元图集对应的缺陷单元图集；对所述缺陷单元图集进行拼接，得到相应的拼接图像；对所述拼接图像上的缺陷进行检测，得到相应的工件表面缺陷信息。
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