[发明专利]一种阵列基板及其制造方法有效
申请号: | 201710741413.9 | 申请日: | 2017-08-25 |
公开(公告)号: | CN107507839B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 何怀亮 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种阵列基板,所述阵列基板包括:基板;遮光层,形成于所述基板上;缓冲层,形成于所述遮光层上;半导体层,形成于所述缓冲层上;保护层,形成于所述半导体层上;绝缘层,形成于所述保护层上;层间介质层,形成于所述保护层上;所述基板上还设有源极层、漏极层和栅极层,所述源极层和所述漏极层形成于所述层间介质层上,并且所述源极层和所述漏极层分别连接在所述半导体层两端的导体化部位,所述绝缘层设在所述栅极层和所述半导体层之间,所述层间介质层覆盖所述栅极和所述保护层设置,在半导体层上覆盖设置绝缘层,有效的确保需要导体化的半导体层区域不会裸露,在进行后续制程时能够有效降低对半导体层的导体化部分的阻抗影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括:基板;遮光层,形成于所述基板上;缓冲层,形成于所述遮光层上;半导体层,形成于所述缓冲层上;保护层,形成于所述半导体层上;绝缘层,形成于所述保护层上;层间介质层,形成于所述保护层上;其中,所述基板上还设有源极层、漏极层和栅极层,所述源极层和所述漏极层形成于所述层间介质层上,并且所述源极层和所述漏极层分别连接在所述半导体层两端的导体化部位,所述绝缘层设在所述栅极层和所述半导体层之间,所述层间介质层覆盖所述栅极和所述保护层设置;所述保护层覆盖区域大于所述绝缘层覆盖区域;且所述保护层厚度小于所述绝缘层厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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