[发明专利]一种采用射频行波技术检测超导失超的微波探测系统在审
| 申请号： | 201710715161.2 | 申请日： | 2017-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN107300679A | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 王宝;潘明;张艳;张瑞 | 申请（专利权）人： | 安徽雷宇电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市蜀*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用射频行波技术检测超导失超的微波探测系统，包括巴伦、隔离环形组件、功率源、对消处理模块、检测闭环模块；所述巴伦的输出端与隔离环形组件的b端口相连，所述功率源的一个输出端与隔离环形组件的a端口相连，所述功率源的另两个输出端分别与对消处理模块的相应输入端相连，所述隔离环形组件的c端口与对消处理模块的相应输入端相连，所述对消处理模块的输出端与检测闭环模块的输入端相连。采用外接式仪表方式，无需固化在超导设备内，利用微波传输线行波探测技术来检测超导线圈内阻的变化，以诊断超导失超现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 射频 行波 技术 检测 超导 微波 探测 系统 | ||
【主权项】：
一种采用射频行波技术检测超导失超的微波探测系统，其特征在于：包括巴伦（1）、隔离环形组件（2）、功率源（3）、对消处理模块（4）、检测闭环模块（5）；所述巴伦（1）的输出端与隔离环形组件（2）的b端口相连，所述功率源（3）的一个输出端与隔离环形组件（2）的a端口相连，所述功率源（3）的另两个输出端分别与对消处理模块（4）的相应输入端相连，所述隔离环形组件（2）的c端口与对消处理模块（4）的相应输入端相连，所述对消处理模块（4）的输出端与检测闭环模块（5）的输入端相连。
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