[发明专利]一种太赫兹金属超材料的验证装置在审
| 申请号： | 201710698050.5 | 申请日： | 2017-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN107290805A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 刘建军;洪治 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G02B1/00 | 分类号： | G02B1/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人： | 陈昱彤 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太赫兹金属超材料的验证装置，其光源辐射的光子能量大于半导体平板的材料的禁带宽度，空间光调制器与计算机连接以使太赫兹金属超材料的周期性谐振结构图形能够由计算机输出到空间光调制器；光源发出的光束进入空间光调制器中后，空间光调制器能够将周期性谐振结构图形加载到光束中；加载了周期性谐振结构图形的光束先后经由成像透镜、合束器透射到半导体平板上后能够激发半导体平板的半导体产生光生载流子，并使光生载流子在半导体平板上构建形成与太赫兹金属超材料相同的周期性谐振结构；太赫兹光谱仪发射的太赫兹波束能够被合束器反射后照射到半导体平板上的周期性谐振结构图区域内，并穿过半导体平板而进入太赫兹光谱仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 金属 材料 验证 装置 | ||
【主权项】：
一种太赫兹金属超材料的验证装置，其特征在于：包括光源、空间光调制器、成像透镜、合束器、半导体平板、计算机和太赫兹光谱仪，所述光源辐射的光子能量大于所述半导体平板的材料的禁带宽度，空间光调制器与计算机连接以使太赫兹金属超材料的周期性谐振结构图形能够由计算机输出到空间光调制器；光源发出的光束进入空间光调制器中后，空间光调制器能够将周期性谐振结构图形加载到光束中；加载了周期性谐振结构图形的光束先后经由成像透镜、合束器透射到半导体平板上后能够激发半导体平板的半导体产生光生载流子，并使光生载流子在半导体平板上构建形成与太赫兹金属超材料相同的周期性谐振结构；太赫兹光谱仪发射的太赫兹波束能够被合束器反射后照射到半导体平板上的周期性谐振结构图区域内，并穿过半导体平板而进入太赫兹光谱仪。
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