[发明专利]基于InP衬底剥离的红外光电探测器及其预制件的制备方法在审

专利信息
申请号: 201710695994.7 申请日: 2017-08-15
公开(公告)号: CN107634121A 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: 黄寓洋 申请(专利权)人: 苏州苏纳光电有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32297 代理人: 陆明耀
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于InP衬底剥离的红外光电探测器的制备方法,在所述InP衬底上形成停刻层;在所述停刻层表面形成保护层;在所述保护层表面形成腐蚀剥离层;在所述腐蚀剥离层表面形成探测器外延层,在所述探测器外延层的第一表面形成第一电极,得到红外光电探测器预制件;在预制件外延层第一电极表面形成支撑部;通过腐蚀剂腐蚀所述腐蚀剥离层,使所述探测器外延层脱离所述保护层,得到剥离件;在所述剥离件与支撑部相对的一面上形成第二电极,并退火,得到红外光电探测器;本发明的探测器制备方式可将InP衬底进行重复利用,降低器件生产成本;同时可将探测器制备成柔性器件,扩大其应用范围。
搜索关键词: 基于 inp 衬底 剥离 红外 光电 探测器 及其 预制件 制备 方法
【主权项】:
一种基于InP衬底剥离的红外光电探测器预制件的制备方法,其特征在于包括,在所述InP衬底上形成停刻层;在所述停刻层表面形成保护层;在所述保护层表面形成腐蚀剥离层;在所述腐蚀剥离层表面形成探测器外延层,在所述探测器外延层的第一表面形成第一电极,得到红外光电探测器预制件。
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