[发明专利]用于原位检验的独立负载框架有效
申请号: | 201710695765.5 | 申请日: | 2017-08-15 |
公开(公告)号: | CN107866762B | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | J·D·谢弗;R·M·加尼翁;D·坦达尔阿努 | 申请(专利权)人: | 波音公司 |
主分类号: | B25B11/00 | 分类号: | B25B11/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王小东 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于原位检验的独立负载框架。用于在测试或者测量过程中向测试样品施加张力负载的负载框架包括:第一夹持器,此第一夹持器用于夹持测试样品的第一端;第二夹持器,此第二夹持器用于夹持测试样品的第二端;以及张力装置,此张力装置用于向测试样品施加张力负载。负载框架还包括围绕第一夹持器的第一端管、围绕第二夹持器的第二端管以及在测试或者测量过程中围绕测试样品的中部的中央管。诸如波产生系统之类的系统可以用于在测试或者测量过程中穿过中央管测量测试样品。 | ||
搜索关键词: | 用于 原位 检验 独立 负载 框架 | ||
【主权项】:
一种负载框架,所述负载框架包括:第一夹持器(200),所述第一夹持器构造成定位测试样品(102)的第一端;第二夹持器(300),所述第二夹持器构造成定位所述测试样品(102)的第二端;以及中央管(400),所述中央管围绕测试区(108),其中:所述测试区(108)布置在所述第一夹持器(200)与所述第二夹持器(300)之间;并且所述中央管(400)构造成允许贯穿波通过所述中央管(400)到达所述测试区(108)。
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