[发明专利]用于原位检验的独立负载框架有效

专利信息
申请号: 201710695765.5 申请日: 2017-08-15
公开(公告)号: CN107866762B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: J·D·谢弗;R·M·加尼翁;D·坦达尔阿努 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: B25B11/00 分类号: B25B11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王小东
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于原位检验的独立负载框架。用于在测试或者测量过程中向测试样品施加张力负载的负载框架包括:第一夹持器,此第一夹持器用于夹持测试样品的第一端;第二夹持器,此第二夹持器用于夹持测试样品的第二端;以及张力装置,此张力装置用于向测试样品施加张力负载。负载框架还包括围绕第一夹持器的第一端管、围绕第二夹持器的第二端管以及在测试或者测量过程中围绕测试样品的中部的中央管。诸如波产生系统之类的系统可以用于在测试或者测量过程中穿过中央管测量测试样品。
搜索关键词: 用于 原位 检验 独立 负载 框架
【主权项】:
一种负载框架,所述负载框架包括:第一夹持器(200),所述第一夹持器构造成定位测试样品(102)的第一端;第二夹持器(300),所述第二夹持器构造成定位所述测试样品(102)的第二端;以及中央管(400),所述中央管围绕测试区(108),其中:所述测试区(108)布置在所述第一夹持器(200)与所述第二夹持器(300)之间;并且所述中央管(400)构造成允许贯穿波通过所述中央管(400)到达所述测试区(108)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波音公司,未经波音公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710695765.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top