[发明专利]一种高效仿真分析电磁开关性能的方法在审

专利信息
申请号: 201710690037.5 申请日: 2017-08-14
公开(公告)号: CN107423522A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 苗晓丹;潘颖;冯翰林 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G06T17/00
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙)31258 代理人: 张文杰
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高效仿真分析电磁开关性能的方法,其包括如下步骤a)建立电磁开关的1/4有限元模型;b)采用建模宏的方法,建立多匝跑道型线圈;c)分析电磁开关在通电情况下的输出性能及内部磁场强度分布情况;d)根据分析结果,对电磁开关的结构进行优化。通过本发明方法可仿真分析所设计的电磁开关性能,进而为电磁开关结构优化与设计提供依据,对电磁开关的性能监测具有重要价值。
搜索关键词: 一种 高效 仿真 分析 电磁 开关 性能 方法
【主权项】:
一种高效仿真分析电磁开关性能的方法,其特征在于,包括如下步骤:a)建立电磁开关的1/4有限元模型;b)采用建模宏的方法,建立多匝跑道型线圈;c)分析电磁开关在通电情况下的输出性能及内部磁场强度分布情况;d)根据分析结果,对电磁开关的结构进行优化。
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