[发明专利]一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备在审
| 申请号： | 201710665749.1 | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN107290348A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 彭声凯;章伟;邱应良;翁兴锋;周金波 | 申请（专利权）人： | 伟创力电子技术(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司32234 | 代理人： | 张利强 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，包括待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。通过上述方式，本发明所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，实现了自动判定EL缺陷类型，避免了人为主观判断，提升了工作效率，从而减少人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 分选 组件 缺陷 el 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。
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