[发明专利]基于杂波轮廓图的动目标显示滤波器滤波方法

摘要

本发明公开了一种基于杂波轮廓图的动目标显示滤波器滤波方法，思路为：确定雷达，并对雷达的检测范围进行划分，得到M”×N”个目标分辨单元和M'×N'个杂波单元，将M”×N”个目标分辨单元记为M”×N”维目标分辨单元矩阵，将M'×N'个杂波单元记为M'×N'维杂波单元矩阵；令na表示第na个天线扫描周期，na∈{0,1,…,Y}，并依次计算第na个天线扫描周期时的完整杂波图和第na个天线扫描周期时的杂波轮廓图；进而得到最终杂波轮廓图；计算海杂波最大多普勒频移，确定多普勒区间，并得到D个多普勒通道以及每个多普勒通道的中心频率；然后计算P个K阶MTI滤波器的权系数，确定雷达输入脉冲，进而得到最终的K阶MTI滤波器输出结果，所述最终的K阶MTI滤波器输出结果为基于杂波轮廓图的动目标显示滤波器滤波结果。

主权项

一种基于杂波轮廓图的动目标显示滤波器滤波方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，确定雷达，并对雷达的检测范围进行划分，得到M”×N”个目标分辨单元和M'×N'个杂波单元，将M”×N”个目标分辨单元记为M”×N”维目标分辨单元矩阵，将M'×N'个杂波单元记为M'×N'维杂波单元矩阵；M”>M'，N”>N'，M”、N”、M'、N'分别为大于0的正整数；初始化：令na表示第na个天线扫描周期，na∈{0,1,…,Y}，na的初始值为0；Y表示设定的天线扫描周期个数；设定第na个天线扫描周期时的完整杂波图，且第na个天线扫描周期时的完整杂波图距离向上杂波单元个数为k1，第na个天线扫描周期时的完整杂波图方位向上杂波单元个数为k2，k1≥1，k2≥1；其中，表示向下取整；令i∈{1+(1‑1)M',1+(2‑1)M',1+(3‑1)M',……,1+(k1‑1)M'}，j∈{1+(1‑1)N',1+(2‑1)N',1+(3‑1)N',……,1+(k2‑1)N'}，M'表示M'×N'维杂波单元矩阵距离向最大编号，N'表示M'×N'维杂波单元矩阵方位向最大编号；步骤2，计算得到第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中距离向编号为i、方位向编号为j处的杂波单元平均值步骤3，分别令i分别取1+(1‑1)×M'至1+(k2‑1)N'，重复执行步骤2，进而得到第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中距离向编号为1+(1‑1)×M'、方位向编号为j处的杂波单元平均值至第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中距离向编号为1+(k1‑1)M'、方位向编号为j处的杂波单元平均值记为第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中方位向编号为j处的k1个杂波单元平均值步骤4，分别令j取1+(1‑1)N'至1+(k2‑1)N'，将i的值置为1，重复执行步骤2和步骤3，进而分别得到第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中方位向编号为1+(1‑1)N'处的k1个杂波单元平均值至第na个天线扫描周期时M'×N'维杂波单元矩阵中方位向编号为1+(k2‑1)N'处的k1个杂波单元平均值并记为第na个天线扫描周期时的完整杂波图步骤5，根据第na个天线扫描周期时的完整杂波图得到第na个天线扫描周期时的杂波轮廓图；步骤6，令na的值加1，返回步骤2，直到得到第Y个天线扫描周期时的杂波轮廓图，并将此时得到的第Y个天线扫描周期时的杂波轮廓图，作为最终杂波轮廓图；步骤7，计算海杂波最大多普勒频移；步骤8，根据海杂波最大多普勒频移，确定多普勒区间，进而得到D个多普勒通道以及每个多普勒通道的中心频率；D为大于0的正整数；步骤9，根据每个多普勒通道的中心频率，计算得到P个K阶MTI滤波器的权系数；其中，P表示MTI滤波器个数，K表示每个MTI滤波器的最大阶数，P、K分别为大于0的正整数；步骤10，确定雷达输入脉冲，并根据P个K阶MTI滤波器的权系数和最终杂波轮廓图，得到最终的K阶MTI滤波器输出结果，所述最终的K阶MTI滤波器输出结果为基于杂波轮廓图的动目标显示滤波器滤波结果。