[发明专利]气相生长装置及气相生长方法有效
申请号: | 201710620046.7 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN109306467B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 肖德元 | 申请(专利权)人: | 上海新昇半导体科技有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/458;C30B25/12;C30B25/14 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余昌昊 |
地址: | 201306 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种气相生长装置及气相生长方法,所述气相生长装置内部包括用于载置一基底(例如硅晶片)的衬托器,衬托器底部具有多个顶杆孔,另外所述气相生长装置还包括可沿所述顶杆孔升降的多个顶杆,顶杆中形成有用于通入吹扫气体的空心通道,此外,所述气相生长装置还包括用于通入工艺气体的第一进气口以及用于通入吹扫气体的第二进气口。在气相生长过程中,所述空心通道与顶杆孔互相连通,向所述顶杆内的空心通道通入一吹扫气体,吹扫气体对顶杆孔附近的其他气体例如工艺气体具有阻挡作用,因而减少或避免了工艺气体从顶杆孔与顶杆之间的间隙到达所述基底的背面,可以提高气相生长所得到的例如外延晶片的平坦度。 | ||
搜索关键词: | 相生 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种气相生长装置,其特征在于,包括:一衬托器,包括一底部和包围所述底部的侧部,所述底部和侧部限定有用以载置一基底的凹坑,所述衬托器上还形成有多个贯穿所述底部的顶杆孔;可沿所述顶杆孔升降并具有一最低位置的顶杆,所述顶杆中形成有用于通入吹扫气体的空心通道;用于通入工艺气体的第一进气口;以及用于通入吹扫气体的第二进气口,所述吹扫气体经由所述第二进气口和所述空心通道通入至所述顶杆孔内。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的