[发明专利]一种基于最大后验的扫描雷达角超分辨成像方法在审
| 申请号： | 201710601961.1 | 申请日： | 2017-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN107271993A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 张寅;李昌林;吴阳;毛德庆;徐帆云;黄钰林;杨建宇 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89;G01S7/41 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙)51227 | 代理人： | 周永宏 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于最大后验的扫描雷达角超分辨成像方法，应用于雷达成像技术和信号处理领域，通过实波束扫描雷达发射线性调频信号，获取被照射区域的二维回波信号，通过脉冲压缩技术和距离走动校正技术实现距离向的高分辨；再根据扫描雷达的方位向回波模型，将扫描雷达方位向回波建模成雷达天线方向图与目标散射系数的卷积形式；在此基础上，使用基于最大后验概率(MAP)的卷积反演方法实现雷达角超分辨成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 最大 扫描 雷达 分辨 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种基于最大后验的扫描雷达角超分辨成像方法，其特征在于，包括：S1、通过实波束扫描雷达发射线性调频信号，获取被照射区域的二维回波信号；S2、通过脉冲压缩技术和距离走动校正技术实现距离向的高分辨；S3、将扫描雷达方位向回波转化为雷达天线方向图与目标散射系数的卷积形式；采用最大后验概率的卷积反演方法实现雷达角超分辨成像。
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