[发明专利]一种用于紫外光探测的电解质柵氧化物半导体光电晶体管有效
申请号: | 201710600940.8 | 申请日: | 2017-07-21 |
公开(公告)号: | CN107527969B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 蔡广烁;王钢;裴艳丽 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/113 | 分类号: | H01L31/113;H01L31/0296 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈伟斌 |
地址: | 510275 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及半导体光电器件的技术领域,更具体地,涉及一种用于紫外光探测的电解质柵氧化物半导体光电晶体管。一种用于紫外光探测的电解质柵氧化物半导体光电晶体管,其中,包括绝缘衬底上的多晶或单晶半导体有源层、源漏电极、绝缘保护层、覆盖于有源层和保护层之上的电解质栅介质、与电解质接触的栅电极。本发明的优势在于:1)具有较宽光学带隙的氧化物半导体材料具有成本低、透明的优点;2)探测器的截止波长可通过氧化物半导体材料的组分调节实现;3)基于场效应晶体管结构的氧化物半导体紫外探测器具有更高的响应度、更高的信噪比及稳定性,且可避免对苛刻真空环境的需求;4)采用高介电常数的电解质作为栅介质层,结构简单的同时,大大降低了工作电压。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 紫外光 探测 电解质 氧化物 半导体 光电晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种用于紫外光探测的电解质柵氧化物半导体光电晶体管,其特征在于,包括绝缘衬底上的多晶或单晶半导体有源层、源漏电极、绝缘保护层、覆盖于有源层和保护层之上的电解质柵介质层、与电解质接触的栅电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的