[发明专利]芯片级封装及相关方法有效

专利信息
申请号: 201710573644.3 申请日: 2017-07-14
公开(公告)号: CN107623010B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 苏炳志;德里克·高淑努尔;拉里·D·金斯曼 申请(专利权)人: 半导体组件工业公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 章蕾
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请案涉及芯片级封装及相关方法。半导体封装的实施方案可包含:裸片,其耦合到玻璃盖;一或多个内壁,其具有耦合到所述裸片的第一材料;外壁,其具有耦合到所述裸片的第二材料;及玻璃盖,其在所述一或多个内壁处且在所述外壁处耦合到所述裸片;其中所述外壁可位于所述裸片及所述玻璃盖的边缘处,且所述一或多个内壁可位于所述外壁的周界内距所述外壁的所述周界预定距离处;且其中所述第一材料的模量可低于所述第二材料的模量。
搜索关键词: 芯片级 封装 相关 方法
【主权项】:
一种半导体封装,其包括:裸片,其耦合到玻璃盖;一或多个内壁,其包括耦合到所述裸片的第一材料;外壁,其包括耦合到所述裸片的第二材料;及玻璃盖,其在所述一或多个内壁处且在所述外壁处耦合到所述裸片;其中所述外壁位于所述裸片及所述玻璃盖的边缘处,且所述一或多个内壁位于所述外壁的周界内距所述外壁的所述周界预定距离处;且其中所述第一材料的模量低于所述第二材料的模量。
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