[发明专利]一种碳化硅修饰碳糊电极的制备方法在审

专利信息
申请号: 201710565322.4 申请日: 2017-07-12
公开(公告)号: CN107389761A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 王志强;王泓珺;焦晨旭 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司11401 代理人: 杨采良
地址: 030051*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明公开了一种碳化硅修饰碳糊电极的制备方法,具体步骤如下(1)将石墨粉和碳化硅放入研钵中充分混匀,之后加入液体石蜡,将其充分研磨、混匀制成糊状物;将制好的糊状物填充到聚四氟乙烯管中压实,最后将电极表面打磨、抛光得到电极;(2)在BR缓冲溶液中,利用三电极体系,对步骤(1)制备的电极进行循环伏安扫描,直到得到稳定的循环伏安曲线,将电极取出,用二次去离子水洗净,制备得到本发明的碳化硅修饰碳糊电极。与裸碳糊电极相比,用本发明制备的碳化硅修饰碳糊电极对Hg2+的测定有着明显的提高。
搜索关键词: 一种 碳化硅 修饰 电极 制备 方法
【主权项】:
一种碳化硅修饰碳糊电极的制备方法,其特征在于:所述方法的具体步骤如下:(1)将石墨粉和碳化硅放入研钵中充分混匀,之后加入液体石蜡,将其充分研磨、混匀制成糊状物;将制好的糊状物填充到聚四氟乙烯管中压实,最后将电极表面打磨、抛光得到电极;(2)在BR缓冲溶液中,利用三电极体系,对步骤(1)制备的电极进行循环伏安扫描,直到得到稳定的循环伏安曲线,将电极取出,用二次去离子水洗净,制备得到本发明的碳化硅修饰碳糊电极。
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