[发明专利]用于校准输入电路的方法和用于校准输入电路的系统在审
| 申请号： | 201710558924.7 | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN107819442A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 加雷斯·劳埃得 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H03F1/02 | 分类号： | H03F1/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人： | 曾贤伟,许静 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于校准输入电路的方法和用于校准输入电路的系统。该发明提供一种用于校准被测设备的输入电路的方法和系统，该设备包括放大电路和组合电路。该方法包括以下步骤向放大电路供应(S01)至少一个测试信号；改变(S02)供应给放大电路的测试信号的至少一个测试信号特性；基于由组合电路输出的输出信号，检测(S03)作为变化的测试信号特性的函数的设备的至少一个设备特性；确定(S04)根据至少一个预设的优化准则来优化检测到的设备特性中的至少一个的测试信号特性的至少一个优化值；以及基于测试信号特性的已确定的优化值来校准(S05)输入电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 输入 电路 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于为被测设备(10)校准输入电路(20)的方法，该被测设备(10)包括放大电路(30)和组合电路(40)，所述方法包括以下步骤：向所述放大电路(30)供应(S01)至少一个测试信号(91，92)；其中作为向所述放大电路(30)供应(S01)所述测试信号(91，92)的结果，输出信号(95)由所述组合电路(40)输出；改变(S02)供应给所述放大电路(30)的测试信号(91，92)的至少一个测试信号特性；基于所述输出信号(95)，检测(S03)作为变化的测试信号特性的函数的被测设备(10)的至少一个设备特性；确定(S04)根据至少一个优化准则来优化检测到的设备特性中的至少一个设备特性的测试信号特性的至少一个优化值；以及基于测试信号特性的已确定的优化值来校准(S05)输入电路(20)。
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