[发明专利]一种适用于处理器类器件的单粒子试验系统

摘要

本发明涉及一种适用于处理器类器件的单粒子试验系统，主要由参试电路试验板、系统供电、远程控制和测试软件及监控软件组成。利用本发明的系统实现方法解决了传统单粒子试验板可靠性差、供电性能低下、试验布局操作难、效率低、监控软件重复设计等问题，不仅可以保证试验系统的可重复使用，极大程度的降低试验系统开发成本及周期，增强了试验布局的可操作性，还能实现提高试验效率，缩短试验准备时间，最大程度利用宝贵的单粒子试验机时。

主权项

一种适用于处理器类器件的单粒子试验系统，其特征在于，包括多块单粒子试验板、MOXA串口控制器、电源控制板、程控电源、试验室控制计算机和监控室控制计算机；所述的多块单粒子试验板通过多路通讯接口与MOXA串口控制器连接，MOXA串口控制器通过多路通讯控制电路与试验室控制计算机连接；所述的试验室控制计算机通过多路供电控制电路控制电源控制板，并通过程控电源控制电源控制板对多种参试电路单独供电、供电切换和瞬态电流监控；所述的电源控制板通过多路供电接口给多块单粒子试验板供电；所述的监控室控制计算机通过网线与试验室控制计算机相连，用于对单粒子试验板上电、复位、通信等的切换和控制，并将试验过程和结果信息上传至监控室控制计算机，完成器件的单粒子试验。