[发明专利]一种低场磁共振温度成像相位漂移的校正方法在审
| 申请号： | 201710533615.4 | 申请日： | 2017-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN107468251A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 陈玉萍;邱本胜;杨巾英 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;A61B5/01 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人： | 杨学明,顾炜 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低场磁共振温度成像相位漂移的校正方法，应用于监测加热区域的面积和准确的温度变化值，该方法包括在微波消融仪对目标区域进行消融前，使用GRE序列或SPGR序列采集一幅磁共振图像，作为参考图像；在MW消融时或消融后采集另一幅磁共振图像，作为加热图像；在加热图像中选取模拟的加热区域和未加热区域；根据所述未加热区域的相位漂移使用加权最小二乘法的一阶多项式模型拟合出加热区域内非温度变化引起的相位变化；根据所述相位差值计算出温度差值；根据所述相位差图和温度差图得到加热区域的面积。本发明能够显著提高低场磁共振温度成像的温度精度，减小温度误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 温度 成像 相位 漂移 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种低场磁共振温度成像相位漂移的校正方法，用于磁共振成像监测MW消融，其特征在于：该方法包括如下步骤：步骤一、在MW消融仪对目标区域进行消融前，使用GRE序列或SPGR序列采集一幅磁共振图像，作为参考图像；在MW消融时或消融后采集另一幅磁共振图像，作为加热图像；步骤二、根据所述加热图像和参考图像计算出加热区域的相位变化；步骤三、根据相位漂移校正后的相位差值，计算出温度差值。
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