[发明专利]光学位移测量器及位移测量方法有效

专利信息
申请号: 201710516454.8 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107421450B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 罗琪 申请(专利权)人: 罗琪
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 姚宇吉
地址: 310000 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种光学位移测量器,包括:封闭暗腔、光源、扩散导光板、第一光强传感器、隔板、主控模块和传动结构;光源、扩散导光板、第一光强传感器设置在封闭暗腔内,将外界环境中的光线隔离开;扩散导光板设置在光源附近,光源发出的光沿着扩散导光板均匀减弱;隔板设置在光源和第一光强传感器之间,避免光源直射到第一光强传感器;第一光强传感器与主控模块连接;传动结构从封闭暗腔中伸出,用于传递外界的位移活动;第一光强传感器和传动结构固定连接,平行于扩散导光板直线移动。通过亮度与位移量的对应关系实现对位移的测量。本发明还提供适用于上述光学位移测量器的位移测量方法。
搜索关键词: 光学 位移 测量器 测量方法
【主权项】:
一种光学位移测量器,其特征在于,包括:封闭暗腔、光源、扩散导光板、第一光强传感器、隔板、主控模块和传动结构;所述光源、扩散导光板、第一光强传感器设置在封闭暗腔内,所述封闭暗腔用于将外界环境中的光线隔离开;所述扩散导光板设置在光源附近,用于使光源发出的光沿着扩散导光板均匀扩散减弱;所述第一光强传感器与主控模块连接,用于将接收到的数据发送给主控模块;所述隔板设置在光源和第一光强传感器之间,避免光源发出的光直射到第一光强传感器上;所述传动结构从封闭暗腔中伸出,用于传递外界的位移活动;所述第一光强传感器和传动结构固定连接,在传动结构的带动下平行于扩散导光板直线移动,移动轨迹的延长线穿过光源。
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