[发明专利]碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极在日落黄的检测中的应用在审
申请号: | 201710509111.9 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN107121468A | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 程卫华 | 申请(专利权)人: | 盐城工业职业技术学院 |
主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 陈治位 |
地址: | 224000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及电化学分析检测领域,且特别涉及一种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极在日落黄的检测中的应用。将这种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极用于对日落黄的检测,检出限(3S/N)为0.02μmol/L,低于单层MMB修饰的金电极测定S的检出限(44μmol/L)。通过使用这种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极对日落黄进行检测,能够有效地解决现有技术中对日落黄的检测,灵敏度低,装置复杂,成本高,不便于现场检测的问题。 | ||
搜索关键词: | 纳米 复合材料 修饰 电极 日落 检测 中的 应用 | ||
【主权项】:
一种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极在日落黄的检测中的应用。
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