[发明专利]一种改良B-H测量线圈及基于此线圈的立方体样件二维磁特性测量方法有效
| 申请号： | 201710470672.2 | 申请日： | 2017-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN107271932B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 丁晓峰;任素萍;翟容 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 11489 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈超 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种改良的B‑H测量线圈，其中磁场强度测量线圈由4层印制电路板PCB制成，针对每层板进行布线，使中间两层通过过孔连接形成内层H测量线圈，外侧两层通过同样方法形成外层H测量线圈，内外测量线圈通过过孔串联形成整体H测量线圈。同时，磁通密度测量线圈由4层印制电路板PCB制成，每层为螺旋形布线形成闭合导体，且每层板内布线相同，通过过孔串联连接，形成整体B测量线圈。在使用改良的B‑H测量线圈行二维磁特性测量前，需得到B‑H测量线圈与对应线圈端电压的准确关系，即进行测量线圈标定，其标定方法各有五大步骤。该测量线圈结构可靠性、精确度高，测量更加方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改良 测量 线圈 基于 立方体 样件 二维 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁场强度H测量线圈，其特征在于：该H测量线圈由四层印制电路板PCB制成，中间两层和外侧两层PCB上刻蚀出的线圈窗口正对印制电路板PCB的侧面，安装在顶层和底层的导线构成一定匝数的测量线圈，并在中间两层的导线组成同等数量匝数的测量线圈；针对每层电路板进行布线，使中间两层通过过孔连接形成闭合回路，构成内层H测量线圈，且每匝闭合线圈的起始端导线与竖直导线呈一定夹角的布线方式串联连接至相邻闭合线圈；外侧两层通过同样方法形成等数量匝数的外层H测量线圈，内、外层H测量线圈通过过孔串联形成整体磁场强度H测量线圈；上述每一层内的传感线圈导线投影重合，进而消除磁场强度法向分量导致的测量误差。/n
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