[发明专利]基于剩余寿命预测的非电子产品序贯验证试验方法

摘要

本发明公开一种基于剩余寿命预测的非电子产品序贯验证试验方法，首先利用试验产品的监测数据，建立产品的维纳退化模型，估计退化模型的参数；其次利用基于维纳过程的剩余寿命预测方法，得到正在进行试验的样品的剩余寿命T的概率密度函数fT|X(τ)(t|X(τ))和累计分布函数FT|X(τ)(t|X(τ))，并计算得到剩余寿命的期望值E(T|X(τ))，并将该产品的总寿命值E(T|X(τ))+τ作为一个新的故障数据，提前做出判决；由于提前做出判决会使生产方、使用方增加一定风险，从而改变生产方、使用方初定的风险值(其中生产方风险α、使用方风险β)，为了保持生产方、使用方承担总风险值不变，将生产方、使用方初定风险值分别调整为α'、β'；最后，将包含新故障数据的所有故障数据，以及对应的α'、β'值等代入接收和拒收方程，进而做出判决。

主权项

一种基于剩余寿命预测的非电子产品序贯验证试验方法，其特征在于：包括如下步骤：首先，根据已完成的试验样品和正在进行的试验样品所监测到的性能退化数据，建立产品的维纳退化模型并估计出模型参数，根据基于维纳过程的剩余寿命预测方法，得到正在试验样品的剩余寿命T的概率密度函数fT|X(τ)(t|X(τ))和累计分布函数FT|X(τ)(t|X(τ))；其次，计算出期望的剩余寿命值为：E(T|X(τ))=∫0∞fT|X(τ)(t|X(τ))·tdt---(1)]]>得到该样品的总寿命值：tn＝E(T|X(τ))+τ   (2)并计算提前做出判决给生产方和使用方带来的风险值分别为：Rrisk_product＝1‑FT|X(τ)(E(T|X(τ))|X(τ))  (3)Rrisk_customer＝FT|X(τ)(E(T|X(τ))|X(τ))   (4)然后，为了保证生产方和使用方各自的总风险不变，将代入判决公式的生产方风险和使用方风险分别调整为：α′=α1+Rrisk_product---(5)]]>β′=β1+Rrisk_customer---(6)]]>最后，将已完成试验的n‑1样本故障数据ti(i＝1,2…,n‑1)，以及正在进行试验的样品的期望总寿命值tn＝E(T|X(τ))+τ在威布尔概率纸上描点，估算出形状参数m，按照公式(7)计算得到无量纲值：K=Σi=1n(tiθ1)m---(7)]]>按照接收方程(8)和拒收方程(9)，分别计算得到n个样本故障下的Ka和Kn值Ka=dmdm-1(m×n×lnd+ln(1-β′α′))---(8)]]>Kn=dmdm-1(m×n×lnd+β′1-α′)---(9)]]>其中：θ0为产品的平均故障间隔(MFBF)检验上限；θ1为产品的平均故障间隔(MFBF)检验下限；d为鉴别比，即d＝θ0/θ1；如果K＜Kn，则作出拒收判决；如果K＞Ka，则作出接收判决；否则继续试验。