[发明专利]基于三维拼接的大口径干涉测量系统和算法有效

专利信息
申请号: 201710442927.4 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN107144237B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 裘恩明;徐华俊 申请(专利权)人: 杭州齐跃科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02;G06T7/521;G06T3/40
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 代理人: 孙孟辉
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于三维拼接的大口径干涉测量系统,采用迈克尔逊干涉系统并搭配超长工作距离的物镜和相机,其特征在于:利用步进电机实现干涉信号自动查找,压电陶瓷实现信号扫描,计算机对采集到的图像进行分析并实现测量,单个视场测量完成后,系统控制X轴和Y轴工作台移动,测量下一个视场,多个视场的测量结果用三维拼接算法拼接,得到大口径范围的测量结果。在原先常规干涉仪系统中,采用单色光和白光切换的方式实现单色光干涉和白光干涉,利用其各自的优缺点来合理的选择测量方案。同时,在检测样品部位添加两维自动移动平台,实现被测区域的自由切换和实时拼接等。
搜索关键词: 三维拼接 大口径 视场 干涉测量系统 测量 单色光 算法 拼接 迈克尔逊干涉系统 超长工作距离 自动移动平台 干涉仪系统 白光干涉 步进电机 干涉信号 检测样品 系统控制 信号扫描 选择测量 压电陶瓷 自动查找 自由切换 白光 物镜 搭配 相机 采集 图像 干涉 计算机 移动 分析
【主权项】:
1.一种基于三维拼接的大口径干涉测量方法,包括如下步骤:步骤 1、系统初始化:被测样品(6)安装到样品固定座(5)上,用三侧的螺钉夹紧被测样品(6),根据当前光学系统的放大倍率和分辨率,设置相机图像的长度和宽度尺寸,计算左右方向和竖直方向需要移动的次数;然后将通过左右移动滑台(2)和竖直移动滑台(4)将样品移动到起始位置,扫描平台3移动到扫描起始位置;步骤 2、信号查找:启动对焦平台(18),开始前后移动,并用软件触发取图;本系统的光路结构中,当被测样品(6)表面清晰成像时刚好出现干涉信号,利用图像梯度值来判断对焦滑台移动的方向;当图像梯度逐渐变大时,说明移动方向正确,当图像梯度变小时,说明移动方向相反;步骤3、干涉扫描:查找到干涉信号后,启动扫描平台开始扫描:在单色光干涉系统中,使用五步移相,每次步进八分之一波长,然后软触发取图;在白光干涉中,使用连续扫描方式,直至无干涉信号为止;步骤4、三维形貌还原:在单色光干涉系统中,利用采集到的五幅图像,计算出每一个点的相位值,然后使用相位解缠还原出三维形貌;在白光干涉系统中,利用空间频域算法处理采集到的一系列图像,计算出每个像素点的高度信息值;步骤5、判断是否需要拼接:如果初始化时左右滑台移动或竖直滑台移动次数大于1,则需要进行拼接处理;按照实际需求,控制滑台移动,然后重复步骤2、3、4,直到所有表面计算完成;步骤6、三维拼接:利用计算得到的测量表面的独立三维形貌数据,进行三维拼接:先选取待拼接的两幅图,并提取出可能重叠区域;在单色光干涉系统中,使用信号振幅的归一化图作为待拼接图像进行拼接;利用相似度算法,查找出最佳匹配坐标,然后根据最佳匹配坐标提取出待拼接三维数据真正重叠区域,并对重叠区域各个点进行高度差计算,将高度差用最小二乘法拟合成平面并计算出归一化高度差,然后将这个最佳差值补偿到其中一组三维原始数据中,完成三维融合;步骤7、完成测试:将拼接得到的三维数据以三维彩图的形式显示在软件中,用户还可以导出原始数据,便于后续的分析。
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