[发明专利]一种取向硅钢成品板二次再结晶平均晶粒尺寸的测量方法在审
| 申请号： | 201710427441.3 | 申请日： | 2017-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN109030487A | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 何承绪;杨富尧;刘洋;高洁;吴雪;马光;韩钰;陈新 | 申请（专利权）人： | 全球能源互联网研究院;国家电网公司;国网上海市电力公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人： | 徐国文 |
| 地址： | 102209 北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种取向硅钢成品板二次再结晶平均晶粒尺寸的测量方法，其中，以圆形表征晶粒的形状，以平均晶粒的直径表征晶粒尺寸，该方法包括如下步骤：于溶液中宏观侵蚀尺寸为a×b的m片取向硅钢成品板；记录单片取向硅钢成品板的平均晶粒数N；计算取向硅钢成品板二次再结晶的晶粒平均面积；确定直径D；本发明提供的测量方法简单、准确性高、误差小，适用范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 取向硅钢 成品板 平均晶粒 二次再结晶 晶粒 测量 宏观侵蚀 单片 记录 | ||
【主权项】：
1.一种取向硅钢成品板二次再结晶平均晶粒尺寸的测量方法，其特征在于，其中，以圆形表征晶粒的形状，以平均晶粒的直径表征晶粒尺寸，所述方法包括如下步骤：(1)于溶液中宏观侵蚀尺寸为a×b的m片取向硅钢成品板；(2)记录单片取向硅钢成品板的平均晶粒数N；(3)计算取向硅钢成品板的二次再结晶晶粒的平均面积；(4)确定直径D。
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