[发明专利]高速低功耗Ti-Ge-Sb纳米复合相变薄膜及其制备和应用有效

专利信息
申请号: 201710422075.2 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107359238B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 翟继卫;吴卫华 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;B82Y30/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 陈亮
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及高速低功耗Ti‑Ge‑Sb纳米复合相变薄膜及其制备和应用,该薄膜为掺金属元素Ti的Ge8Sb92纳米相变薄膜,其化学组成符合化学通式Tix(Ge8Sb92)1‑x,其中,x为金属Ti元素的原子百分比,且02/Si(100)基片表面、背面,去除灰尘颗粒、有机与无机杂质,然后利用磁控溅射共溅射法制备相变薄膜。与现有技术相比,本发明具有更快的SET操作速度,更高的结晶温度和结晶激活能,更大的晶态电阻,有利于实现高速低功耗存储的PCRAM。
搜索关键词: 高速 功耗 ti ge sb 纳米 复合 相变 薄膜 及其 制备 应用
【主权项】:
1.高速低功耗Ti‑Ge‑Sb纳米复合相变薄膜,其特征在于,该薄膜为掺金属元素Ti的Ge8Sb92纳米相变薄膜,厚度为20‑200nm,其化学组成符合化学通式Tix(Ge8Sb92)1‑x,其中,x为金属Ti元素的原子百分比,且0<x<0.3。
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